TP200測(cè)頭圖|TP200B模塊測(cè)頭|雷尼紹總代理
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TP200測(cè)頭圖|TP200B模塊測(cè)頭|雷尼紹總代理Renishaw雷尼紹中***代理
趙先生 137--0171
TP200
具有模塊交換功能的超小型測(cè)頭，它使用應(yīng)變片機(jī)構(gòu)，比機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測(cè)頭的壽命更長(zhǎng)、精度更高。
TP200系統(tǒng)組件包括：
- TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另***款，允許更大振動(dòng)公差）
- TP200測(cè)針模塊 — 選擇固定越程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）
- PI 200-3測(cè)頭接口
- SCR200測(cè)針交換架
還有***種EO模塊（長(zhǎng)過(guò)行程），過(guò)行程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。
特性與優(yōu)點(diǎn)
- 應(yīng)變片技術(shù)具有無(wú)可比擬的重復(fù)性和精確的三維輪廓測(cè)量
- 零復(fù)位誤差
- 無(wú)各向同性影響
- 六向測(cè)量能力
- 測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100 mm（GF測(cè)針）
- 測(cè)頭模塊快速交換，無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)尖
- 壽命 >1000萬(wàn)次觸發(fā)
TP200/TP200B測(cè)頭本體
TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的測(cè)量重復(fù)性和精確的3D空間形狀測(cè)量精度，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米***的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。
請(qǐng)注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測(cè)針。
| 規(guī)格摘要 | TP200 | TP200B |
| 主要應(yīng)用 | 用于需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 | 與TP200***樣，但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。 |
| 感應(yīng)方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z |
| 單向重復(fù)性 (2σ µm) | 電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：0.50 µm | 電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：0.50 µm |
| XY（2D）輪廓測(cè)量偏差 | 電平觸發(fā)1： ±0.80 µm 電平觸發(fā)2：±0.90 µm | 電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.2 µm |
| XYZ (3D) 輪廓測(cè)量偏差 | 電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.40 µm | 電平觸發(fā)1：±2.50 µm 電平觸發(fā)2：±4 µm |
| 測(cè)針交換的重復(fù)性 | SCR200：±0.50 µm（） 手動(dòng)：±1 µm（） | SCR200：±0.50 µm（） 手動(dòng)：±1 µm（） |
| 測(cè)力（測(cè)尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
| 越程測(cè)力（位移為0.50 mm時(shí)） | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
| 重量（測(cè)頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g |
| *長(zhǎng)加長(zhǎng)桿（如配在PH10 PLUS系列測(cè)座上） | 300 mm | 300 mm |
| 推薦的測(cè)針長(zhǎng)度（M2測(cè)針系列） | SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF | SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF |
| 安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
| 適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
| 測(cè)針模塊交換架 | 自動(dòng)：SCR200 手動(dòng)：MSR1 | 自動(dòng)：SCR200 手動(dòng)：MSR1 |
| 測(cè)針系列 | M2 | M2 |
TP200測(cè)針模塊
測(cè)針模塊通過(guò)高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭本體上，具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭過(guò)行程保護(hù)功能。
有三種測(cè)針模塊可供選擇，具有兩種不同的越程測(cè)力。
| 模塊 | SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力） | LF（低測(cè)力） | EO（長(zhǎng)過(guò)行程） |
| 應(yīng)用程序 | ***般使用。 | 小直徑測(cè)球或必須使用*小測(cè)力的場(chǎng)合。 | 額外過(guò)行程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
| 注釋 | 測(cè)針*長(zhǎng)可達(dá)100 mm，測(cè)球直徑 > 1 mm。 | 測(cè)球直徑小于1 mm。 | 與SF的過(guò)行程測(cè)力相同。 測(cè)頭Z軸的額外過(guò)行程為8 mm。 |
SCR200交換架
SCR200可以高速自動(dòng)交換多達(dá)六個(gè)TP200測(cè)針模塊。SCR200由獨(dú)立的測(cè)頭接口 — PI 200-3供電，并可確保安全的測(cè)針交換。SCR200套件可包含低測(cè)力和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力組件，每***種套件都包含***個(gè)SCR200加上三個(gè)測(cè)力相同的測(cè)針模塊。
TP200測(cè)頭圖|TP200B模塊測(cè)頭|雷尼紹總代理
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