上海致東全光譜反射式膜厚測量儀
價 格:詢價
產 地:更新時間:2020-12-15 10:46
品 牌:其他型 號:SR
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產品參數
產品介紹
上海致東全光譜反射式膜厚測量儀
詳細介紹
上海致東全光譜反射式膜厚測量儀另有大型膜厚量測儀,針對Thin-Film Solar Cell及TFT-LCD的客制化應用機型
產品優勢
由橢圓儀校正
量測色度坐標
量測時間1-3s ,精確度高
***內自行研發,價格合理
量測膜厚(N.K)值 .量測穿透率(T%).反射率(R%)
FFT for very thick layer (up to 50 um)