美國(guó)solar Metrology SMX-BEN太陽(yáng)能光伏薄膜電池鍍層測(cè)厚儀
價(jià) 格：詢價(jià)
產(chǎn) 地：美國(guó)更新時(shí)間：2020-11-05 11:52
品 牌：Solar Metrology型 號(hào)：SMX-BEN
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：1523
400-006-7520
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1. 全球唯***能提供NIST等***的標(biāo)準(zhǔn)樣品，與美***NREL共同合作。
2. 超大樣品室，H:56cmXW;54cmXD74cm
3. 可直接儲(chǔ)存及建立各種鍍層的Protocol參數(shù)，可設(shè)定多點(diǎn)分析，以確定制程品質(zhì)。
4. 針對(duì)CIGS各種鍍層材質(zhì)的濾光片，共5種
5. X-Y-Z三軸自動(dòng)定位，軸承***長(zhǎng)距離為8”X8”X6”，并有自動(dòng)聚焦弁?/div>
6. 具有表面相對(duì)等距自動(dòng)調(diào)整系統(tǒng)
7. 采用自然光，LED白光，無(wú)色差
8. 采用***新高科技的高靈敏度的電子式冷卻偵測(cè)器
9. 具有防撞安全裝置
10. 具有操作時(shí)輻射安全裝置
11. 可將實(shí)驗(yàn)室建立的數(shù)據(jù)直接復(fù)制至線上檢測(cè)機(jī)臺(tái)上。
產(chǎn)品參數(shù)
美國(guó)solar Metrology 太陽(yáng)能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測(cè)量?jī)x
X射線發(fā)生部 | 電壓 | 最大50kV，多段電壓切換 |
電流 | 4-1000μA，可做自動(dòng)調(diào)整設(shè)定 |
準(zhǔn)直器 | 共五個(gè) |
偵測(cè)器 | Pin or Si |
檢測(cè)器 | 冷卻方式 | 電子冷卻 |
五種濾波器自動(dòng)切換 | |
電源 | AC110~240V, 50/60 Hz |
| 鍍層厚度分析 |
(1)分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時(shí)測(cè)量。
(2)分析CdTe之各鍍層的厚度及成份同時(shí)測(cè)量。
(3)三、五族元素各鍍層的成分比例及厚度分析。 |
產(chǎn)品介紹
美***solar Metrology 太陽(yáng)能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測(cè)量?jī)x
其他型號(hào)：
薄膜太陽(yáng)能檢測(cè)設(shè)備：
應(yīng)用於薄膜太陽(yáng)能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。
桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:全球唯***能提供NIST標(biāo)準(zhǔn)樣品，快速(60秒內(nèi))非破壞檢測(cè)。
生產(chǎn)製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設(shè)備商turn-key使用，直接OEM與生產(chǎn)製程端整合。
即時(shí)監(jiān)測(cè)設(shè)備(In-Situ) SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內(nèi)檢測(cè)，可耐高溫至 300°C。
產(chǎn)線自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)(In-Line) SMX-ILH:適用於各種製程產(chǎn)線上不同檢測(cè)點(diǎn)上，可依現(xiàn)場(chǎng)Layout 做不同方式進(jìn)樣。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號(hào)
