全譜直讀光譜儀介紹
Innovate T5型全譜直讀光譜儀采用***際標準的設計和制造工藝技術，應用了日本濱松公司進的CMOS信號采集元件，每塊CMOS都可以單獨設值火花個數，與***際光譜儀***流技術同步，采用真空光室設計及全數字激發光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機設計合理，操作簡單易學，具有數據***，長期穩定性好等優點。Innovate T5全譜直讀光譜儀，長治鑄造冶金用全譜光譜儀
應用領域
冶金、鑄造、機械、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空、核電、金屬和有色冶煉、加工和回收工業中的各種分析
可檢測基體
鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基。
主要技術參數
光學系統：帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學系統
波長范圍：140~680nm
光柵焦距：401mm
探 測 器：高性能CMOS陣列/CCD陣列
光源類型：數字光源，高能預燃技術（HEPS）
放電頻率：100-1000Hz
放電電流：500A
工作電源：AC220V 50/60Hz 1000W
儀器尺寸：780*565*360mm
儀器重量：78kg
檢測時間：依據樣品類型而定，***般20S左右
電極類型：鎢材噴射電極
分析間隙：4mm
其他功能：真空，溫度，軟件自動控制；壓力，通訊監測
主要特點
高性能光學系統
采用高精度的CMOS元件可精確測定非金屬元素如C、P、S、As、B、N以及各種金屬元素含量；測定結果***，重復性及長期穩定性極佳。
自動光路校準
自動光路校準，光學系統自動進行譜線掃描，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作；
儀器自動識別特定譜線與原存儲線進行對比，確定漂移位置，找出分析線當前的像素位置進行測定。
插拔式透鏡設計
真空光學系統采用獨特的入射窗與真空隔離，可在真空系統工作狀態下進行操作，光學透鏡采用插拔式透鏡結構，日常清洗維護方便快捷。
真空防返油技術
多***隔離的真空防返油技術，采用真空壓差閥門保證真空泵不工作時真空光室與真空完全隔離；中間增加了真空濾油裝置，確保真空泵中油不進入真空室，保障CMOS檢測器及光學元件在可靠環境中工作。
開放式激發臺
開放式激發臺機靈活的樣品夾設計，以滿足客戶現場的各種形狀大小的樣品分析；配合使用小樣品夾具，線材***低分析可達到3mm。
噴射電極技術
采用***際進的噴射電極技術，使用鎢材料電極，在激發狀態下，電極周圍會形成氬氣噴射氣流，這樣在激發過程中激發點周圍不會與外界空氣接觸，提高激發精度；配上獨特氬氣氣路設計，大大降低了氬氣使用量，也降低客戶使用成本。
集成氣路模塊
氣路系統采用氣路模塊免維護設計，替代電磁閥和流量計，電極自吹掃功能，為激發創造了良好的環境。
數字化激發光源
數字激發光源，采用***際***為先進的等離子激發光源，超穩定能量釋放在氬氣環境中激發樣品；可任意調節光源的各項參數，滿足各種不同材料的激發要求。
高速數據采集
儀器采用高性能CMOS檢測元件，具有每塊CMOS單獨超高速數據采集分析功能，并能自動實時監測控制光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發室等模塊的運行狀態。
以數據傳輸
計算機和光譜儀之間使用以太網卡和TCP/IP協議，避免電磁干擾，光纖老化的弊端，同時計算機和打印機完全外置，方便升***和更換；可以遠程監控儀器狀態，多通路操控系統控制和監控所有的儀器參數。
預制工作曲線
備有不同材質和牌號的標樣庫，儀器出廠時工廠預制工作曲線，方便安裝調試和及時投入生產；根據元素和材質對應的分析程序而稍有差異，激發和測試參數儀器出廠時已經調節好，根據分析程序可自動選擇***優測試條件。
分析速度快
分析速度快，僅需20秒即可完成***次分析；針對不同的分析材料，通過設置預燃時間及測量時間，使儀器用***短時間達到***優的分析效果。
多基體分析
光路設計采用羅蘭圓結構，檢測器上下交替排列，保證接收全部的譜線，不增加硬件設施，即可實現多基體分析；便于根據生產的需要增加基體及材料種類和分析元素（無硬件成本）。
軟件中英文系統
儀器軟件操作簡單，完全兼容于Windows7/8/10系統。
滬公網安備31011502016460號
