***、掃描速度調(diào)節(jié)

       鑄件檢測的掃描速度***般按聲程調(diào)節(jié)。

二、檢測靈敏度調(diào)節(jié)

　　鑄件檢測靈敏度應(yīng)根據(jù)對鑄件的質(zhì)量要求而確定，***般上，對內(nèi)外層可采用不同的靈敏度。檢測靈敏度***般用圖6-43所示的帶有平底孔的試塊或工件底面來調(diào)節(jié)。用試塊調(diào)節(jié)靈敏度時，試塊的材質(zhì)和表面狀態(tài)（包括表面形狀、粗糙度）應(yīng)與被探工件相同，否則，應(yīng)測定傳輸修正值并予以修正。用工件底面調(diào)節(jié)靈敏度時，可以消除材質(zhì)差異和表面狀態(tài)差異的影響，但要求工件底面應(yīng)與檢測面平行。

　　當(dāng)采用直探頭檢測時，在***大聲程處，以φ3、φ4、φ6mm三種平底孔當(dāng)量為靈敏度，具體由供需雙方協(xié)商確定。若按GB/T 7233-2009標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)要求，通常采用2～2.5MHz的探頭，以***大聲程處的φ6mm平底孔作為檢測靈敏度。當(dāng)采用雙晶直探頭檢測時，以***大聲程處的φ3mm平底孔當(dāng)量為靈敏度。

二：缺陷判定與記錄

（1）缺陷判定

　　缺陷判定方法基本與鍛件相同，存在下列情況之***時，則可判為缺陷：

　　① 存在缺陷回波，且回波波幅超過某***高度(如超過距離－波幅曲線)時；

　　② 底面回波波幅降低某***值時；

　　③ 當(dāng)采用多次回波法檢測，底波次數(shù)減少時。

　　（2）缺陷記錄

　　標(biāo)準(zhǔn)不同，對缺陷記錄的要求不同，按GB/T 7233-2009標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)要求，除非另有規(guī)定，應(yīng)記錄達(dá)到或超出表6—6給出數(shù)值的所有底波衰減和缺陷回波高度。

　　當(dāng)使用斜探頭時，不考慮回波的幅度，應(yīng)記錄所有具有游動特征或在壁厚方向上能測量尺寸的信號。

平底孔直徑換算成橫孔直徑的公式：

式中： DQ——橫孔直徑，單位為毫米（mm)

          DFBH——平底孔直徑，單位為毫米（mm)

          λ——波長，單位為毫米（mm)

          X——聲程，單位為毫米（mm)≧

注：本公式僅適于DQ≧2λ?X≧5N(N為近場長度)?單晶探頭。

       ***般情況下，鑄件中的缺陷往往要進(jìn)行挖補(bǔ)，為確定挖補(bǔ)的范圍和深度，對鑄件中缺陷定位要準(zhǔn)確。

　　鑄件檢測主要采用縱波直探頭，缺陷在工件中的位置由探頭在檢測面上的位置及缺陷在示波屏上的水平刻度值來確定。

　　7．缺陷大小的測定

　　鑄件檢測時。考慮到缺陷的形態(tài)和取向，超聲檢測應(yīng)盡可能從兩面進(jìn)行檢測。

       ***般鑄件中允許存在的缺陷較大，常用測長法確定缺陷的面積。鑄件中的缺陷多為體積形的，有時需要從多個方向進(jìn)行測定，以確定缺陷的大小。

       缺陷大小的測定方法基本與鍛件相同。

（文章來源于互聯(lián)網(wǎng)）